太赫兹 时域光谱 TDS 温度可调 低温 集成化 硅片测试
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商品描述
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温度可调太赫兹时域光谱系统
1、该太赫兹时域光谱系统设计为集成化紧凑型布局，方便用于硅片等半导体/固体/液体材料测试；
2、使用独立的飞秒激光器进行激发，即用户可使用自己的飞秒激光器，可单独购买TDS套件；
3、该系统不仅可以进行透射/反射测量，还可以进行测绘测量，也可以加入ATR等模块；
4、测量软件可以自由组合测量程序等一起自动执行一系列测量；
5、可以使用低温恒温器进行温度控制。
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技术参数
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技术参数
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样品室容量
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200(W)×360(D)×200(H) mm、约14L
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光谱范围
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40GHz-4THz以上
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光谱分辨率
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7GHz以下
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动态范围
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>50dB
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信噪比
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2500:1
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激光器要求
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中心波长780至800nm，脉冲宽度100fs或更小，强度0.5nJ /脉冲或更高，重复40MHz或更高
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样品形态
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固态、液态
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样品室布局
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透射式布局，也可以加入反射光路和ATR模块，可对样品室温度进行控制
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软件
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测量软件，分析软件
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外形尺寸/重量
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700（宽）×580（深）×380（高）毫米，约60千克（※不包括布线，突起等）
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应用实例
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不同糖分含量透过率测量
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基于太赫兹吸收光谱的判别（侧链判别）
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树脂材料测试
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